溫控試驗箱滿足或結(jié)合以下標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù)而制造

      GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件

      GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件

      GB 10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件

      GB 10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件

      GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

      GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備

      GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法

      GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法

      GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

      GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法

      GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導(dǎo)則

      GJB360、GJB150、GJB573A98、IEC68234、35、37和MILSTD810E、GB2423等正弦振動、隨機(jī)振動、沖擊、碰撞、跌落、離心式恒加速度、綜合環(huán)境等各種試驗規(guī)范。